Journal Of Electronic Imaging

  • 1560-229X

    E-ISSN刊号

  • 1017-9909

    ISSN刊号

  • SCIE

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首页 SCI期刊 SCIE期刊 计算机科学 中科院4区 JCRQ4 期刊介绍(非官网)
Journal Of Electronic Imaging期刊
  • 中科院分区

    4区

  • WOS(JCR)分区

    Q4

  • 刊期

    Quarterly

  • 语种

    English

  • 小类学科

    ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

  • 大类学科

    计算机科学

  • 预计审稿时间

    约4.0个月

基本信息:
期刊简称:J ELECTRON IMAGING
出版国家或地区:UNITED STATES
出版商:SPIE
涉及的研究方向:工程技术 - 成像科学与照相技术
TOP期刊:否
出版年份:1992
评价指数:
年文章数:316
影响因子:1
h-index:60
CiteScore值:1.7
SJR指数:0.264
SNIP指数:0.357
其它信息:
是否OA:非开放访问期刊
预警等级:不在预警名单中
CiteScore分区:Q3
CiteScore排名:540 / 797
Gold OA文章占比:3.76%
研究类文章占比:98.10%

Journal Of Electronic Imaging杂志介绍

Journal Of Electronic Imaging杂志是由SPIE出版的专业性学术期刊,自1992年创刊以来,以Quarterly的形式定期出版,确保读者能够及时接触到工程技术 - 成像科学与照相技术领域的最新动态和研究成果,为工程技术 - 成像科学与照相技术行业提供了一个深入探讨和交流的平台,促进知识的共享与思想的碰撞。该杂志的2023年CiteScore分区Q3,CiteScore排名540 / 797。SJR指数0.264,SNIP指数0.357,H-index指数60,2023年自引率0.2727...,在2023年发文总量达到316篇,这些指标综合体现了该杂志在学术出版领域的表现和对知识传播的重要贡献。Journal Of Electronic Imaging致力于将最新的ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC政策解读、ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC理论与实践以及成果转化案例分析等前沿内容呈现给广大读者。作为计算机科学领域内的综合类期刊,读者对象为以从事计算机科学的科研、教学的高、中级人员,研究生,以及相关专业的计算机科学工作者为主要读者对象。欢迎来自不同学科背景的作者投稿,共同推动计算机科学领域的研究与发展。该期刊预计审稿时间: 约4.0个月 ,这个时间只是一个预估,实际审稿时间可能会根据稿件的复杂性、审稿人的反馈速度以及编辑部的工作安排有所变化。

  • Gold OA文章占比:3.76%
  • 研究类文章占比:98.10%
  • 出版国人文章占比:0
  • OA被引用占比:0.0554...
  • 开源占比:0.0325
  • 出版撤稿占比:0.0078...

期刊评价指数统计

1、影响因子与CiteScore指数
2、期刊自引率和年发文量趋势图

中科院SCI分区表

中科院SCI期刊分区  2023年12月最新升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区
中科院SCI期刊分区  2022年12月升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区
中科院SCI期刊分区  2021年12月旧的升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
计算机科学
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学
4区 4区 4区

WOS期刊SCI分区2023-2024年最新版

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

学科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

学科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

CiteScore2024年最新版

  • CiteScore:1.7
  • SJR:0.264
  • SNIP:0.357
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大类:Engineering 小类:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

其它相关数据

Journal Of Electronic Imaging被他刊引用情况
期刊名称 引用次数
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26
SPIE,通讯方式:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。

杂志社联系方式

通讯方式:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151

出版商:SPIE

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